新生儿惊厥与脑瘫病因

时间 : 2009-11-27 16:30:34 来源：www.naotan.net.cn

[摘要]

新生儿惊厥与脑瘫病因日期:09-02-16点击次数:[]

新生儿惊厥是由各种原因引起的新生儿时期很常见的症状，常由于症状不典型，难于辨认而延误诊断。严重的惊厥发作病死率较高。常遗留神经系统后遗症，如脑瘫、癫痫、智力低下等。　　新生儿惊厥和脑瘫的病因都很复杂、广泛，既可发生在出生前（如各种原因所致胚胎期脑发育异常），也可发生在出生时（如新生儿窒息、产伤），还可发生在出生后（如各种中枢神经系统感染、心肺功能异常性疾病）。许多病因既是新生儿惊厥的原因，同时又是脑瘫的病因。在病因方面两者又有不同之处。

　　新生儿惊厥的病因随着围产医学的发展和产科技术的提高，以及新生儿重症监护技术的发展及神经影像学技术的广泛应用，近20年来有很大的变化。过去由产伤和窒息缺氧引起的新生儿惊厥减少，而由代谢异常引起的惊厥增多。现在由于高危新生儿和早产儿存活率的增高，由窒息、颅内出血引起的新生儿惊厥又有增加，尤其缺氧为引起新生儿惊厥的主要原因。对于体重小于2500g的早产儿，即使有低血糖或低血钙存在，也多继发于围产期窒息，颅内出血或感染。过去1/3的惊厥原因不明，某些脑血管疾病，脑先天畸形或脑发育不全等难以发现的病因，由于诊断技术的进步也得以明确。

　　自1843年Little首先提出窒息与脑瘫有关系以来，一直认为围产期窒息是脑瘫的主要原因。而许多文献报道新生儿窒息在脑瘫病因中仅占少数，78%的脑瘫由非窒息因素引起。而低出生体重儿脑瘫发生率增高。国内报道窒息仍为脑瘫的主要高危因素（占45.3%）。下面将新生儿惊厥的病因及与脑瘫有关的高危因素归纳如下：

　　一、缺氧缺血性脑病（HIE）

　　缺氧缺血性脑病是新生儿惊厥的主要原因。继发于围产期窒息的HIE占惊厥病因的30%～70%。北医三院报告67例新生儿惊厥，其中HIE占惊厥病因的16。4%，中重度HIE90%由围产期窒息引起。1997报告97例新生儿惊厥，其中缺氧缺血性脑病占惊厥病因的30%。窒息缺氧导致无氧代谢的增加，能量产生减少，有毒的代谢产物堆积。此外，中重度HIE伴有肝肾等多器官功能衰竭和血液系统功能紊乱，以及电解质和化学物质代谢方面的改变，这些均可引起惊厥发作，甚至造成脑损伤，遗留神经系统后遗症，如脑瘫、智力低下、癫痫等。随访55例新生儿HIE,脑瘫为7.2%，智力低下为16.4%，脑瘫合并智力低下为60%。以上说明窒息、HIE、惊厥、脑瘫之间有密切关系。

　　新生儿HIE的临床表现除惊厥以外，可有意识状态的改变，肌张力的变化和原始反射及颅神经的异常。轻度HIE表现兴奋、原始反射正常，肌张力正常或增高，无惊厥出现，脑电图多数正常；中度HIE呈抑制状态、嗜睡、肌张力减低、原始反射减弱，多出现较频繁的惊厥，脑电图轻至中度异常；重度HIE表现不同程度的昏迷，肌张力低下，甚至全身松软，原始反射消失，伴有频繁惊厥，同时可合并颅内出血，脑电图重度异常。新生儿HIE惊厥出现得比较早。多在生后6～12h，生后24～36h频繁惊厥发作，并难以控制，表现为惊厥持续状态。发作类型主要为微小发作，多灶性阵挛性发作，可以单一发作形式出现或合并其他发作类型。脑电图异常与临床表现和脑病严重程度相一致。重度HIE可表现背景活动异常，如爆发性抑制，低电压、电静息，以及惊厥性放电。这种异常脑电图反映脑功能有明显紊乱，提示预后不好。

　　二、颅内出血

　　颅内出血是围产期新生儿早期死亡和出现中枢神经系统发育障碍的严重疾病之一，也是新生儿惊厥的常见原因，大约占惊厥病因的15%～25%。缺氧和损伤均可造成颅内出血。两者可同时存在，互为因果，而产伤仍是引起颅内出血的重要原因，占29.6%～47.6%。早产儿颅内出血比足月儿发生率高，分别为29.4%和9.4%。孕龄小于32周，体重小于1500g的早产儿颅内出血发病9731234548:Tags: